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led壽命測試研究現狀

2025-02-22

 led知識,  led壽命測試研究現狀

   歐司朗 LUW CP7P產品采用 IESNA LM -80標準進行測試,在350mA、55℃條件下,10000h衰減到原來的94.28%,而在350mA、105℃條件下,10000h衰減到原來的92.86%。

   美國標準 LM -80-08( Approved Method : Measuring Lumen Maintenance of LED Light Sources )提出了在3個外殼溫度(85℃、55℃和制造商選擇的溫度)下測量 LED 的光通維持率,旨在測量 LED 封裝、陣列及模塊的固態照明光源的6000h大約相當于9個月時間)光通維持率。歐司朗選擇以105℃的溫度仿真要求嚴苛的應用需求。在測試過程中,根據不同功率的 LED ,選擇不同的環境測試溫度,但所選擇的溫度需在上述已知的3個區間內,根據測試的數據進行線性計算并外推即可得出 LED 的壽命。

    遠方公司開發出一套加速老練和壽命檢測系統,其主要包括恒溫試驗箱、老練測試主機、多路溫度巡檢儀、光度計和系統軟件。在測試過程中,恒溫試驗箱分別控制在85℃、55℃和25℃,老練測試主機用于給被測 LED 供電及完成各 LED 電參數的測量,多路溫度巡檢儀用于測量 LED 的溫度,光度計用于測量 LED 的光度參數,上述三者將測試的結果反饋到系統軟件,軟件分析推算得到被測 LED 的壽命。

   力油電子科技(上海)有限公司根據 IES - LM -80、 IESOLM -82、 TM -21、GB2312-80等 CIE 和 IEC 標準設計制造設計出一套 LEDLM -80PLLED光通量維持率及老化壽命測試系統。該測試系統包含兩個功能: LED 光通量維持率測試及 LED 光色參數隨時間變化的曲線,如相關色溫、色品坐標、光通量等隨時間變化的曲線。通過連續幾百至幾千小時的光通量、色參數數據采集,利用軟件預測L30、L70等光通維持率,推算出 led壽命時間。

   通過將溫度、溫度變化、多軸振動組合在一起,加速試驗應用快速溫變振動箱能夠快速辨別電子產品的過程缺陷并暴露出

設計缺陷。采用預先設計的加速因子,高加速壽命試驗( HALT )提供壽命評估、 MTBF 、 MTFF ,縮短產品研發周期,

增加產品壽命可靠性的置信度。快速溫變振動箱的溫度范圍為150~1000℃,溫變速率達到600℃/ min 。溫度循環通過熱

對流和液氮制冷。高加速壽命試驗箱配置多個氣動控制器(4個以上),能夠同時提供多自由度的寬頻重復振動。振動控制

器配置幾個時間獨立、頻率獨立的疲勞分析軟件工具。測試裝置采用熱電偶獲得被測樣品的溫度分布,加速度傳感器和應力

傳感器記錄樣品的變形歷史。


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